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電路基礎(chǔ)：晶振電路設(shè)計(jì)方案及建議
該文將討論晶振電路設(shè)計(jì)方案，并解釋電路中的各個(gè)元器件的具體作用，并且在元器件數(shù)值的選擇上提供指導(dǎo)。最后，就消除晶振不穩(wěn)定和起振問(wèn)題，最后文章還將給出了一些建議措施。
2016-06-30
晶振電路 方案 建議
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調(diào)制解調(diào)器功能解析：手機(jī)信號(hào)背后你不了解的秘密
如今手機(jī)內(nèi)部結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，個(gè)中包含的芯片數(shù)量不比當(dāng)年的臺(tái)式電腦差多少。但是不少手機(jī)用戶在遇見(jiàn)電話掉線、信號(hào)不好、網(wǎng)絡(luò)上傳下載緩慢等問(wèn)題時(shí)，第一時(shí)間還是想到把問(wèn)題推給運(yùn)營(yíng)商。
2016-06-29
解調(diào)器 手機(jī)信號(hào)
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測(cè)量?jī)x器中的各種波形抽取方式
幾乎所有需要進(jìn)行波形顯示的測(cè)量?jī)x器都面臨一個(gè)問(wèn)題：待顯示的波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)不等于屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù)，在這樣的情況下，如何把波形繪制到顯示區(qū)域中去?本文將為你介紹一下解決這一問(wèn)題的幾種方案。
2016-06-29
測(cè)量?jī)x器 波形
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無(wú)電池式低功耗藍(lán)牙Beacon：采用能量采集技術(shù)的BLE
低功耗藍(lán)牙(BLE)被廣泛運(yùn)用于那些需要采集數(shù)據(jù)并將它們傳送至指定目的地的低功耗無(wú)線通信應(yīng)用。在這些應(yīng)用中，各類傳感器需要由某種形式的能源供電，以采集數(shù)據(jù)，并通過(guò)BLE發(fā)送。使用有線電源為這些傳感器供電一般不具可行性，例如有時(shí)候有些傳感器是位于人體上的。電池供電型傳感器受電池壽命的限...
2016-06-28
BLE 無(wú)線通信
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電路設(shè)計(jì)中電阻的選擇及其作用
電阻可以在電路中用作分壓器、分流器和負(fù)載電阻；它與電容器—起可以組成濾波器及延時(shí)電路；在電源電路或控制電路中用作取樣電阻；在半導(dǎo)體管電路中用作偏置電阻確定工作點(diǎn)；使用特殊性質(zhì)的電阻如壓敏電阻、熱敏電阻實(shí)現(xiàn)防浪涌電壓、抑制沖擊電流，實(shí)現(xiàn)過(guò)溫保護(hù)等等。電阻是最普通的器件，同時(shí)也是電...
2016-06-27
0歐姆電阻 電阻參數(shù) 電阻的作用
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溫升測(cè)試與環(huán)境溫度測(cè)試的區(qū)別及聯(lián)系
一到夏季，工程師們總會(huì)為電機(jī)過(guò)熱而煩惱。但大家都知道衡量電機(jī)發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機(jī)測(cè)試中涉及到溫度的測(cè)試主要時(shí) 溫升測(cè)試及 環(huán)境溫度測(cè)試，本文主要介紹兩者的區(qū)別和聯(lián)系。
2016-06-24
測(cè)試 電機(jī)
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基于低能耗藍(lán)牙的半雙工語(yǔ)音通信
低能耗藍(lán)牙被業(yè)界廣泛認(rèn)為是實(shí)現(xiàn)物聯(lián)網(wǎng)(IoT)應(yīng)用愿景的關(guān)鍵技術(shù)。事實(shí)上，極低的功耗使其成為電池供電的物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品最理想的無(wú)線通信解決方案，盡管目前低能耗藍(lán)牙技術(shù)規(guī)范還是局限于幾種特定應(yīng)用，但是，創(chuàng)新的解決方案可促使這項(xiàng)技術(shù)拓展到不同的應(yīng)用領(lǐng)域，例如，多媒體流。按照這個(gè)發(fā)展方向，本文...
2016-06-24
低能耗藍(lán)牙 半雙工
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更好的觀察波形，揭秘示波器四大捕獲方式
通常我們?cè)贏uto Setup之后，波形就會(huì)出現(xiàn)在屏幕上，然后就可以進(jìn)行測(cè)量分析了，但Auto Setup并不能保證信號(hào)被高保真的捕獲，高保真捕獲信號(hào)是第一要素，否則后續(xù)的測(cè)量分析都沒(méi)有意義了，那么我們?nèi)绾尾拍芨玫挠^察波形呢，看完本文你就知道了。
2016-06-23
示波器 波形捕獲
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如何將EMC問(wèn)題“扼殺”在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中的“搖籃里”？
傳統(tǒng)的電子產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)思路都是產(chǎn)品成型后再進(jìn)行一系列的測(cè)試，通過(guò)測(cè)試判定產(chǎn)品是否符合各項(xiàng)指標(biāo)的要求，但是這種設(shè)計(jì)思路存在的弊端就是只能等產(chǎn)品成型后再進(jìn)行驗(yàn)證，項(xiàng)目周期會(huì)非常長(zhǎng)，同時(shí)一旦產(chǎn)品驗(yàn)證失敗，需要進(jìn)行一系列的整改、測(cè)試，這樣對(duì)于整個(gè)項(xiàng)目的周期、成本都是非常大的浪費(fèi)。本...
2016-06-22
產(chǎn)品開(kāi)發(fā) EMC 設(shè)計(jì) 整改
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